国产亚洲一区二区三区在线_国产成人aa在线观看视频_毛片网价格_蜜桃黄色网站在线观看_久久妇女高潮几次MBA

技術文章

Technical articles

當前位置:首頁技術文章多功能數字式四探針測試儀使用原理

多功能數字式四探針測試儀使用原理

更新時間:2022-05-11點擊次數:669

 多功能數字式四探針測試儀使用原理

概述

       ST2258C型多功能數字式四探針測試儀是運用四探針測量原理測試電阻率/方阻的多用途綜合測量儀器。該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 A.S.T.M 標準。 
       ST2258C型多功能數字式四探針測試儀成套組成:由主機、選配的四探針探頭、測試臺等部分組成。  
主機主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統組成。儀器所有參數設定、功能轉換全部采用數字化鍵盤輸入;具有零位、滿度校功能;電壓電流全動轉換量程;測試結果由數字表頭直接顯示。本測試儀特贈設測試結果分類功能,Z大分類10類。
       探頭選配:根據不同材料特性需要,探頭可有多款選配。有高耐磨碳化鎢探針探頭,以測試硅類半導體、金屬、導電塑料類等硬質材料的電阻率/方阻;也有球形鍍金銅合金探針探頭,可測柔性材料導電薄膜、金屬涂層或薄膜、陶瓷或玻璃等基底上導電膜(ITO膜)或納米涂層等半導體材料的電阻率/方阻。換上四端子測試夾具,還可對電阻器體電阻、金屬導體的低、中值電阻以及開關類接觸電阻進行測量。配**用探頭,也可測試電池片等箔上涂層電阻率方阻。  
       測試臺選配:一般四探針法測試電阻率/方阻配SZT-A或SZT-B或SZT-C或SZT-F型測試臺。二探針法測試電阻率測試選SZT-K型測試臺,也可選配SZT-D型測試臺以測試半導體粉末電阻率,選配SZT-G型測試臺測試橡塑材料電阻率。詳見《四探針儀器、探頭和測試臺的特點與選型參考》   
儀器具有測量精度高、靈敏度高、穩定性好、智能化程度高、結構緊湊、使用簡便等特點。    
儀器于半導體材料廠器件廠、科研單位、高等院校對導體、半導體、類半導體材料的導電性能的測試。 
 基本技術參數 1. 測量范圍、分辨率(括號內為可向下拓展1個數量級)
     電    阻:10.0×10-6 ~ 200.0×10 Ω,    分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×10 Ω  
                (1.0×10-6 ~ 20.00×10 Ω,    分辨率0.1×10-~ 0.01×103 Ω)  
     電 阻 率:10.0×10-6 ~ 200.0×103 Ω-cm   分辨率1.0×10-6 ~ 0.1×10 Ω-cm  
                (1.0×10-6 ~ 20.00×10Ω-cm  分辨率0.1×10-6 ~ 0.01×103 Ω-cm)  
     方塊電阻:50.0×10-6 ~ 1.0×106 Ω/□    分辨率5.0×10-6 ~ 0.5×10 Ω/□   
                (5.0×10-6 ~ 100.0×103 Ω/□  分辨率0.5×10-6 ~ 0.1×10 Ω/□)   
2. 材料尺寸(由選配測試臺和測試方式決定)
    直    徑: SZT-A圓測試臺直接測試方式 Φ15~130mm,手持方式不限  
    SZT-B/C/F方測試臺直接測試方式180mm×180mm,手持方式不限.
      長(高)度:  測試臺直接測試方式 H≤100mm,    手持方式不限.
     測量方位:  軸向、徑向均可  
3. 量程劃分及誤差等級 

滿度顯示200.020.002.000200.020.002.000200.020.002.000
常規量程kΩ-cm/□kΩ-cm/□Ω-cm/□mΩ-cm/□---
Z拓展量程---kΩ-cm/□Ω-cm/□mΩ-cm/□mΩ-cm/□
基本誤差±2%FSB ±4LSB±1.5%FSB ±4LSB±0.5%FSB±2LSB±0.5%FSB ±4LSB±1.0%FSB ±4LSB

  4.工作電源:220V±10%, f=50Hz±4%,PW≤5W  
5.外形尺寸: 245mm(長)×220 mm(寬)×95mm(高) 
   凈   重:≤1.5~2.0kg