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Product CenterST2722型半導體粉末電阻率測試儀 是運用四端子法或四探針法測試粉末電阻率的測量儀器。 儀器組成: 整套儀器有主機和粉末測試臺兩大部分組成。
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相關文章品牌 | 其他品牌 | 產地類別 | 國產 |
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應用領域 | 化工 |
半導體粉末電阻率測試儀 是運用四端子法或四探針法測試粉末電阻率的測量儀器。
儀器組成: 整套儀器有主機和粉末測試臺兩大部分組成。
主機 是整個系統電氣控制顯示核心部分,主要由精密恒流源、高分辨率ADC、嵌入式單片機系統單元以及壓力厚度顯示單元組成。
粉末測試臺 是連接測試主機,用來裝夾半導體粉末(含高分子粉末和金屬粉末等),進行壓力施加(壓片),并同步進行電阻率測試的裝置(以下簡稱測試臺)。
測試臺為粉末標準容器、電、加壓機構、壓力檢測、厚度檢測、連接線纜等單元組成。
優勢特征:測試臺設計,符合國標和行業規范,國內,并獲。有兩款。
四端子法符合GB/T 24521-2009和YS/T 587.6-2006有關國標和行業標準。采用通用的電流、電壓四端子測量法(儀器電流源和電壓表兩個單元分別從獨立回路連至電同時和樣品接觸),可以消除電與連接導線導通電阻產生的誤差,克服了傳統的二端法測量粉末電阻率儀器的弊病,可以真實地、準確地測量出粉末樣品的電阻率,因此重復性也好。
四探針法測試臺設計符合符合GBT 30835-2014《鋰離子電池用炭復合磷酸鐵鋰正材料》中關于粉末電阻率測試的原理和規范,參照GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國A.S.T.M 標準。
半導體粉末電阻率測試儀
四探針法同步壓力連續測試粉末“電阻率-壓強曲線,”
國內,行業,行業推薦粉末電阻率標準測試方式。
儀器所有參數設定、功能轉換全部采用數字化鍵盤輸入;具有零位、滿度自校功能;電壓電流全自動轉換量程;測試結果由數字表頭直接顯示。
壓力機構采用手動操作,壓力(壓強)平穩可調、可保持。電子傳感器自動同步檢測、顯示壓力(壓強)值和樣本高度。故本測試臺可一邊加壓一邊同步測試電阻率,可方便測繪粉末樣品“電阻率-壓強”的性能曲線;也可以單獨作為粉末壓制成片的工具使用,成片后可脫模取出,用普通四探針法測試相關參數!
本測試儀配有成套PC軟件,故不但可以單獨(脫機)操作,還可以連接PC軟件,自動保存當前測試數據、查詢并統計分析歷史數據、打印測試報告等!
本儀器具有測量精度高,操作簡便、穩定性好,重復性好,一機多用使用方便等特點。也是區別于以往舊款同類測試臺新特點!本儀器于碳素廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門、是檢驗和分析固態和粉態樣品質量的一種重要優良工具。
三、技術參數
1. 電阻率測量范圍、分辨率
電 阻 率: 15.0×10-6 ~ 200.0×103 Ω-cm 分辨率1.5×10-6 ~ 0.1×103 Ω-cm
(1.0×10-6 ~ 200.0×101 Ω-cm 分辨率0.1×10-6 ~ 0.1×101 Ω-cm)
2
滿度顯示 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | 20.00 | 2.000 | 200.0 | 20.00 |
大拓展量程 | KΩ-cm | Ω-cm | mΩ-cm | |||||
基本誤差 | ±2%讀數±4字 | ±1.5%讀數±4字 | ±0.5%讀數 ±2字 | ±0.5%讀數 ±4字 |
3. 數字電壓表: 北京同德創業 專業鑄造品質
⑴量程:10mV ~ 100 mV,自動
⑵顯示: 4位有效數字,大顯示999.9 小數點、單位自動顯示
4. 數控恒流源
電流輸出:直流電流0.1µA~1000mA可調,系統自動步進調整。
5.粉末測試臺部分參數:
(1)、試樣成份:成份不限,但不得含有對測試臺和電有腐蝕作用的成份。
(2)、試樣粒度:標準以40目以下—60目以上(標準篩網),一般其他粒度也可!
(3)、試樣容器:內徑:Φ11.28mm(S=1.0cm2)
高度:0~20mm可調,帶高度傳感器監測,測量誤差:±0.05mm。
(4)、
標準壓強:P0=4Mpa±0.05Mpa。
壓強量程:20Mpa, P=0~20 Mpa可調。
(5)、壓力機構采用手動操作、壓力平穩可調。
四位有效顯示數00.00~20.00MPa,分別率±0.01 MPa。
6.測試儀外形與重量
前寬×長×總高=250mm×220 mm×540mm
重 量=10Kg
7. 電源:
功 耗:< 10W
輸入:220V±10% 50Hz
8. 本儀器工作條件為:
溫 度: 0-40℃
相對濕度: ≥60%
工作室內應無強電磁場干擾,不與高頻設備共用電源。
產品名稱:雙組合四探針方阻/電阻率測試儀 雙電測四探針測試儀 產品型號:KDB-3 |
雙組合四探針方阻/電阻率測試儀 雙電測四探針測試儀 型號:KDB-3
KDB-3雙組合測試儀是根據標準SEMI MF1529設計,雙組合測試方法使用四探針的方式不同于其他ASTM測量半導體電阻率或薄層電阻的方法。在本測試方法中,在測試樣品的每個測量位置上,以兩種不同的方式(配置)將探針連接到提供電流和測量電壓的電路中。四探針的這種使用法通常被稱為“雙配置”或“配置切換”測量。單組合四探針相比,用較小間距的探針頭就可以進行高精度的測量,從而可獲得更高的晶片薄層電阻變化的空間分辨率。
儀器特點如下:
1、配有雙數字表:一塊數字表在測量顯示硅片電阻率的同時,另一塊數字表(以萬分之幾的精度)適時監測全過程中的電流變化,使操作更簡便,測量更。
數字電壓表量程:0—199.99mV 靈敏度:10μV 輸入阻抗:1000ΜΩ
基本誤差±(0.04-0.05%讀數+0.01%滿度)
2、可測電阻率范圍:10—4 —1.9×104Ω·cm。
可測方塊電阻范圍:10—3 —1.9×105Ω/□。
3、設有電壓表自動復零功能,當四探針頭1、4探針間未有測量電流流過時,電壓表指零,只有1、4探針接觸到硅片,測量電流渡過單晶時,電壓表才指示2、3探針間的電壓(即電阻率)值;同樣,當四探針頭1、3探針間未有測量電流流過時,電壓表指零,只有1、3探針接觸到硅片,測量電流渡過單晶時,電壓表才指示2、4探針間的電壓(即電阻率)值,避免空間雜散電波對測量的干擾。
4、流經硅片的測量電流由高度穩定(萬分之五精度)的特制恒流源提供,不受氣候條件的影響,整機測量精度<3%。
電流量程分五檔:10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。
5、儀器采用觸點電阻更低(<5mΩ)、使用壽命更長的轉換開頭及繼電器(>10萬次),在緣電阻、電流容量方面留有更大的安全系數,提高了測試儀的可靠性和使用壽命。
6、可選配軟件進行數據采集,可進行雙組合或單組合測量,實現自動切換電壓檔位、讀取相應電壓值,根據不同方法計算電阻率或方塊電阻值;軟件可對測量數據進行分析,如平均值,大值、小值、大百分變化率、平均百分變化率、徑向不均勻度等內容。
7、可配KDDJ-3電動測試架,自動上下運行,使測量更方便快捷。
8、四探針頭采用上良好的紅寶石軸套導向結構,使探針的游移率減小,測量重復性提高
樓板測厚儀/測厚儀 型號:TC-SMY-400A TC-SMY-400A樓板測厚儀,是一種便攜式無損檢測儀器??捎糜跈z測樓板、剪力墻、梁、柱等混凝土結構的厚度,也可用于檢測其它任何非金屬結構的厚度: 它利用電磁感應原理對非金屬結構的厚度進行非破損檢測。 |